遙感太陽(yáng)光模擬器

金屬鹵素光源模擬器

光譜覆蓋：200-3000nm  

均勻性：90-95%

匹配度：B

氙燈光源模擬器

光譜覆蓋：250-2500nm

均勻性：90-95%

匹配度：A

Led光源模擬器

光譜覆蓋：300-1200nm可擴(kuò)展至1700nm

色溫：3000-9000K連續(xù)可調(diào)

均勻性：98%

匹配度：A

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遙感試驗(yàn)是遙感建模的重要工具。而遙感試驗(yàn)所受的外部影響很大，創(chuàng)造一個(gè)可控的環(huán)境是一個(gè)選擇。可控環(huán)境中太陽(yáng)是重要的部分。

太陽(yáng)模擬技術(shù)是利用氙燈光源模擬太陽(yáng)光輻照特性的技術(shù)，其主要作用提供與太陽(yáng)光譜相匹配的、均勻的、準(zhǔn)直穩(wěn)定的且具有一定輻照度的光源，是模擬太陽(yáng)光輻照特性的一種試驗(yàn)與測(cè)試設(shè)備。其應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛，如衛(wèi)星的熱平衡試驗(yàn)、衛(wèi)星姿態(tài)部件的測(cè)試標(biāo)定、空間實(shí)驗(yàn)室的模擬、遙感技術(shù)、太陽(yáng)能電池的檢測(cè)與標(biāo)定等。特別在遙感領(lǐng)域，太陽(yáng)模擬器可實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室光譜測(cè)量、遙感模擬仿真、測(cè)量?jī)x器和遙感相機(jī)的實(shí)驗(yàn)室輻射定標(biāo)。

遙感太陽(yáng)光模擬器的應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。太陽(yáng)模擬器是太陽(yáng)敏感器地面模擬試驗(yàn)和性能測(cè)試與標(biāo)定的重要設(shè)備，在地面上模擬太陽(yáng)光輻照特性，用來模擬空間環(huán)境，主要用于航天器(飛行器)空間環(huán)境模擬試驗(yàn)，近幾年在空間技術(shù)、太陽(yáng)能利用以及遙感技術(shù)等領(lǐng)域也把它作為太陽(yáng)光模擬光源，具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。應(yīng)用太陽(yáng)模擬技術(shù)研制的大型太陽(yáng)模擬器是航天技術(shù)中衛(wèi)星空間環(huán)境模擬的主要組成部分(完成衛(wèi)星的熱平衡試驗(yàn)，檢驗(yàn)衛(wèi)星的熱設(shè)計(jì))。研制的中小型太陽(yáng)模擬器用于衛(wèi)星姿態(tài)控制的太陽(yáng)敏感器地面模擬試驗(yàn)與標(biāo)定及地球資源衛(wèi)星多光譜掃描儀太陽(yáng)光譜輻照響應(yīng)的地面定標(biāo)。

性能指標(biāo)

總輻照度：太陽(yáng)光模擬器能夠在測(cè)試平面上達(dá)到1000W/m2的標(biāo)準(zhǔn)輻照度(用標(biāo)準(zhǔn)電池測(cè)量)，并根據(jù)需要可對(duì)輻照度在標(biāo)準(zhǔn)輻照度值上下進(jìn)行一定的調(diào)節(jié)。

光譜匹配：太陽(yáng)光模擬器光譜輻照度分布應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)光譜輻照度分布匹配。

等級(jí)A的匹配度在0.75～1.25；

等級(jí)B的匹配度在0.6～1.4；

等級(jí)C的匹配度在0.4～2.0；

均勻度：對(duì)測(cè)試平面上,*定測(cè)試區(qū)域內(nèi)的輻照度應(yīng)該達(dá)到一定的均勻度,輻照度用合適的探測(cè)器量測(cè)。

等級(jí)A的輻照均勻度<=+/-2%；

等級(jí)B的輻照均勻度<=+/-5%；

等級(jí)C的輻照均勻度<=+/-10%；

對(duì)于單體電池和電池串的測(cè)試,探測(cè)器最大尺寸應(yīng)小于電池最小尺寸的一半，對(duì)于組件,探測(cè)器尺寸應(yīng)不大于組件中單體電池的尺寸，不均勻度=+/-((最大幅照度-最小輻照度)/(最大幅照度+最小輻照度))*100%。其中,最大輻照度和最小輻照度是指在*定范圍內(nèi)探測(cè)器在任意*定點(diǎn)的測(cè)量值。

輻照穩(wěn)定度：數(shù)據(jù)采集期間,輻照度應(yīng)該具有一定的穩(wěn)定度。

等級(jí)A的穩(wěn)定度在<=+/-2%；

等級(jí)B的穩(wěn)定度在<=+/-5%；

等級(jí)C的穩(wěn)定度在<=+/-10%；

輻照不穩(wěn)定度=+/-((最大幅照度-最小輻照度)/(最大幅照度+最小輻照度))*100%，其中,最大輻照度和最小輻照度是數(shù)據(jù)采集期間在測(cè)試平面內(nèi)探測(cè)器在任意*定點(diǎn)的測(cè)量值。